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淺析「芯片外觀缺陷檢測」

2020-06-09 10:49:27 責任編輯: 瑞智光電 0

芯片外觀缺陷檢測


    產(chǎn)品表面缺陷檢測屬于一種機器視覺技術(shù)。它使用機器視覺來模擬人類視覺的功能,收集并處理來自特定對象的圖像,計算并最終執(zhí)行實際的檢測,控制和應用。


    當前,旨在防止表面缺陷的質(zhì)量控制操作主要依賴于人工品檢。在生產(chǎn)過程中,這些品檢員必須敏銳地感知并立即對產(chǎn)品質(zhì)量進行判斷,以確保不會將有缺陷的產(chǎn)品交付給消費者。但是,生產(chǎn)線速度越快,產(chǎn)品越復雜,缺陷越模糊,人工檢測在滿足生產(chǎn)效率要求的同時提供絕對質(zhì)量保證就越困難?;诖?,很多企業(yè)就開始引進目前最有效率又準確的高精度視覺檢測技術(shù)。下面瑞智光電給大家分享機器視覺檢測技術(shù)在芯片外觀缺陷檢測中的應用。

芯片外觀缺陷檢測設備

    一、芯片在封裝過程中存在的問題


    芯片在封裝過程中可能出現(xiàn)封裝體破損、字模傾斜、管腳缺失等諸多缺陷,這些缺陷輕者影響芯片出廠質(zhì)量,重者導致芯片報廢。


    二、芯片外觀缺陷主要包括的內(nèi)容


    1、封裝體缺陷;


    2、印刷缺陷;


    3、管腳缺陷。


    三、芯片外觀缺陷檢測的主要檢測內(nèi)容


    1、封裝體檢測的內(nèi)容包括:刮痕、污跡、破損、未灌滿、外溢等。


    2、印刷檢測的內(nèi)容包括:錯字、偏移、漏印、多印、模糊、傾斜、位移、斷字、雙層印、無字模等。


    3、管腳檢測的內(nèi)容包括:管腳缺失、管腳破損、管腳間距、管腳寬度、管腳彎曲度、管腳跨距、管腳長度差異、管腳站立高、管腳共面


    度、管腳傾斜等。


    四、芯片外觀缺陷檢測人工檢測與機器視覺檢測優(yōu)勢對比

人工檢測:1、檢測速度慢;2、成本高;3、勞動強度大;4、標準不統(tǒng)一;5、檢測精度低。機器視覺檢測:1、速度快;2、靈活性強;3、精度高;4、非接觸性;5、功能強;6、可靠性高;7、客觀性強。

 

    以上就是芯片外觀缺陷檢測的介紹,相信大字對芯片缺陷檢測有了更深的了解。瑞智光電是一家專業(yè)生產(chǎn)視覺檢測設備的廠家,所生產(chǎn)的視覺檢測設備應用的范圍非常廣泛,可應用于電子、汽車、手機、塑膠、磁性材料、醫(yī)療、印刷等等行業(yè)。芯片外觀缺陷檢測是其中的一種具體應用之一。有需要的朋友,可來電咨詢。